Paviršiaus centruotų ikosaedrinių ZnMgY kvazikristalų atvirkštinės erdvės pjūviai

Anotacija

Kvazikristalų, kaip ir įprastinių kristalų, atvirkštinė gardelė yra diskreti, nors kvazikristalinės, kitaip nei kristalinės, atvirkštinės gardelės vektoriai g užlieja visą atvirkštinę erdvę, ‒ teoriškai bet kurį kvazikristalo atvirkštinės erdvės tašką atitinka gardelės mazgas. Tačiau kvazikristalinės atvirkštinės gardelės mazgus moduliuoja struktūrinis faktorius, kurį apibrėžia antrinis, papildomas atvirkštinės gardelės vektorius g┴. Struktūrinis faktorius greitai mažėja augant g┴ vektoriaus moduliui, ir dėl šios priežasties įprastines kvazikristalų difraktogramas paprastai sudaro palyginti nedidelis refleksų, atitinkančių žemas g┴a ≲ 5 vertes, skaičius (čia a ‒ kvazigardelės konstanta). Didėjant XRD aparatūrinei skiriamajai gebai, kvazikristalų difraktogramos atskleidžia vis daugiau refleksų. Tai paprastai pasiekiama naudojant sinchrotroninės spinduliuotės rentgeno spindulių šaltinius.
Šiame darbe pateikiami ZnMgY kvazikristalų rentgeno-difrakcinių tyrimų rezultatai, kurie buvo gauti naudojantis įprastiniais rentgeno spindulių šaltiniais (Panalytical Empyrean ir Rigaku SmartLab difraktometrais). Gautos difraktogramos demonstruoja turtingą, tankią kvazikristalų atvirkštinės gardelės struktūrą ir atskleidžia difrakcinius refleksus, atitinkančius neįprastai dideles antrinių atvirkštinės gardelės vektorių vertes, g┴a ≈ 24. (Tokios g┴ vektorių vertės anksčiau buvo stebėtos tik sinchrotroniniuose rentgeno-difrakciniuose tyrimuose.) Kadangi įprastinių difraktometrų skiriamoji geba paprastai yra mažesnė nei sinchrotroninių, gauti rezultatai liudija išskirtinį tirtų ZnMgY monokvazikristalų struktūrinį tobulumą.